МИД-НМ-А32
Наименование:
Дефектоскоп-толщиномер магнитоимпульсный
Обозначение:
МИД-НМ-А32
Технические условия:
–
Назначение МИД-НМ-А32:
Дефектоскоп-толщиномер магнитоимпульсный МИД-НМ-А32 предназначен для измерения толщины стенки и определения зон перфорации и коррозии НКТ малого диаметра изготовленных из магнитных и немагнитных материалов.
Стоимость МИД-НМ-А32 запрашивайте по телефону или e-mail.
Подробное тех. описание МИД-НМ-А32
Сделать заказ и запросить подробные технические характеристики МИД-НМ-А32 Вы можете здесь.
Возможно, Вас также заинтересуют:
- Дефектоскоп-толщиномер магнитоимпульсный МИД-НМ
- Модуль контроля глубины МКГ-2
- Манометр кабельный с переключаемой жилой МКПЖ
Назад