Датчики температуры и вибрации
Узлы управления ЭПУУ-7, ЭПУУ-8Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов
Наименование:
Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов
Обозначение:
–
Технические условия:
–
Назначение:
Для измерений с пикосекундным и фемтосекундным временным разрешением соответственно нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка, отвечающих за процесс самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниковых образцах, представляющих собой тонкие пленки толщиной 5-100 мкм.
Стоимость Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов запрашивайте по телефону или e-mail.
Сделать заказ и запросить подробные технические характеристики Система лазерная для измерений с временным разрешением нелинейных оптических восприимчивостей третьего порядка наноструктурированных материалов Вы можете здесь.
Возможно, Вас также заинтересуют:
- Спектрометры раман-люминесцентные портативные ИнСпектр
- Комплекс метрологический измерения хроматической дисперсии, поляризационной модовой дисперсии и спектрального пропускания в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
- Радиометр Аргус-32
Назад