Наименование:

Измерители статических параметров микросхем

Обозначение:

КВК.СИЦ.Э-32

Технические условия:

–

Назначение КВК.СИЦ.Э-32:

Для контроля и измерения статических параметров интегральных микросхем в условиях серийного и массового производства на межоперационном и выходном контроле приборов в корпусах и на пластинах при ручной и автоматической загрузке и выгрузке.. Диапазон измерения напряжений при задании тока ±(0,001...100) мА.

Стоимость КВК.СИЦ.Э-32 запрашивайте по телефону или e-mail.