Наименование:

Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля

Обозначение:

–

Технические условия:

–

Назначение:

Для измерения угла вращения плоскости поляризации монохроматического излучения при его прохождении через оптически-активные вещества и структуры на расстояниях, соответствующих областям ближнего (много меньше половины длины волны) и дальнего (больше длины волны) полей. Область применения: лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.

Стоимость Комплекс поляризационной сканирующей оптической микроскопии ближнего поля запрашивайте по телефону или e-mail.